SY-180大型天线测量系统,支持有源、无源天线测量,凭借着1.875°的探头采样密度,测量更精确,尤其适用于基站天线及大型天线测量(被测物直径小于4.0m)。

  • 基本参数:

                      探头个数:179+1个

                      测试频率范围:400MHz-6GHz

                      被测设备(DUT)最大尺寸:3.4m

                      被测设备的最大质量:120kg

                      典型动态范围:50-70dB

                      静区反射电平:0.4GHz-0.6GHz<-35dB

                                                    0.6GHz-1GHz<-40dB

                                                    1GHz-6GHz<-45dB

                      暗室屏蔽效能:≤-110dB(可选)

                      可选的电波暗室尺寸:12m*11m*11m

                      静区直径(400MHz-6GHz):3.4m

                      探头阵列直径(内径):7.2m(可定制)

                      多轴转台:(1)方位轴 (2)俯仰轴(3)X位移轴 (4)升降轴(可选)

                      探头陈列角度: 1.875°

 

    • 被测物辐射口径尺寸(m):

mm

  • 系统优势:

                       快速测量本系统实现了实时无源方向图,采用探头对称分布,正常测量情况下,水平方向只需旋转180°即可对被测物进行完整的3D测量。软件自动化实现测试功能,

                        并自动生成测试报告。

                       功能更强大支持400MHz-6GHz频段的无源测试。能支持大型天线的有源、无源测量,尤其适用于BTS天线的测量。

  • 可测量参数                                            

可测量参数
轴比前后比天线方向性下倾角精度
旁瓣电平天线效率不圆度测试相位中心测试
电平下降天线增益天线波瓣宽度方向图一致性
零点填充波束偏移天线交叉极化2D/3D方向图
支持有源天线测试的EIRP、TRP、EIRS、TIS指标

  •  测试速度            

无源测试时间
查看方向图实时
3D图测试时间<3分钟

 

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